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高低温冲击试验箱 GDC4005适用于电子零部件、半导体、电子线路板、金属材料等行业测试。试验箱下部为低温区，上部为高温区，试件放置在试验箱中部，高温冲击时上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门 关闭，下风门打开，形成低温内循环。如有需还可以与环境温度连通，形成三箱法试验。 试件可静止不动，避免了用户因试件移动带来的诸多不便。采用进口全封闭风冷压缩机，进口可触式控温仪表。
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高低温冲击试验箱、GDC6010适用于电子零部件、半导体、电子线路板、金属材料等行业测试。试验箱下部为低温区，上部为高温区，试件放置在试验箱中部，高温冲击时上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门 关闭，下风门打开，形成低温内循环。如有需还可以与环境温度连通，形成三箱法试验。 试件可静止不动，避免了用户因试件移动带来的诸多不便。采用全封闭风冷压缩机，可触式控温仪表。
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高低温冲击试验箱、GDC6005适用于电子零部件、半导体、电子线路板、金属材料等行业测试。试验箱下部为低温区，上部为高温区，试件放置在试验箱中部，高温冲击时上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门 关闭，下风门打开，形成低温内循环。如有需还可以与环境温度连通，形成三箱法试验。 试件可静止不动，避免了用户因试件移动带来的诸多不便。采用全封闭风冷压缩机，可触式控温仪表。
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高低温冲击试验箱GDC4010适用于电子零部件、半导体、电子线路板、金属材料等行业测试。试验箱下部为低温区，上部为高温区，试件放置在试验箱中部，高温冲击时上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门 关闭，下风门打开，形成低温内循环。如有需还可以与环境温度连通，形成三箱法试验。 试件可静止不动，避免了用户因试件移动带来的诸多不便。采用全封闭风冷压缩机，可触式控温仪表。
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高低温冲击试验箱GDC6005适用于电子零部件、半导体、电子线路板、金属材料等行业测试。试验箱下部为低温区，上部为高温区，试件放置在试验箱中部，高温冲击时上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门 关闭，下风门打开，形成低温内循环。如有需还可以与环境温度连通，形成三箱法试验。 试件可静止不动，避免了用户因试件移动带来的诸多不便。采用进口全封闭风冷压缩机，进口可触式控温仪表。
